| Institución |  Facultad de Cs. Físicas y Matemáticas |
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| Disponible desde | Primavera 2019 | |
| Cursos Asociados | Otras realizaciones de este Curso | |
| Metodología | Dentro de las actividades del curso se consideran: - Visitias obligatorias a los laboratorios de control en el DIE y al LEAF-NL. - Actividades de laboratorio a contar de la semana 5. -Presentaciones tipo seminario sobre papers ad-hoc a los contenidos del curso y cursos anteriores a este con focus en control automático. |
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| Evaluación | Las evaluaciones del curso consisten en: - 3 controles en horario de clase auxiliar extendido (14:00 a 16:00). Estos controles serán SIN APUNTES de ningún tipo, solo lápiz y calculadora. - Presentaciones tipo seminario sobre papers que serán subidos a la plataforma ucursos. La nota de presentaciones será la nota de una de las preguntas del control 3. Las condiciones sobre este punto son: - Las presentaciones se deben realizar en grupos de 2 personas a elección de uds. Los temas y fechas de las presentaciones se avisarán de manera oportuna. - En caso de no realizar la presentación, se evaluará con nota 1.0 y está será la nota de dicha pregunta en el control 3. - Se debe asistir a todas las demás presentaciones para que la nota obtenida en la presentación sea válida. De no asistir a las presentaciones de los demás grupos se irá descontando puntaje por cada presentación que no asista hasta llegar a la nota mínima (1.0). Fe de erratas: Prevalecerá el criterio del 75% para la asistencia a las presentaciones. - Informes de laboratorio, los cuales serán realizados en grupos de 2 personas. Las fechas y horarios de realización de dichas actividades serán fijadas en un horario disponible. En caso de inasistencia a un control y dicha inasistencia sea debidamente justificada y sea autorizada por la escuela, se deberá rendir el examen recuperativo para reemplazará dicha nota por el control no rendido. |
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| Comentarios | La asistencia será controlada tanto en clases de cátedra como en clases auxiliares | |
| Programa del Curso | 2010_2_ME4501.pdf | |
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